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镀铝层厚度测量
由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄，因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度，常用的检测方法有：
电阻法 电阻法是利用欧姆定律来对镀铝层的厚度进行测量，根据欧姆定律
R＝ρ×L/S
单位面积镀铝薄膜的电阻值越小，其镀铝层的厚度越厚，反之则越薄。 电阻法检测镀铝层的厚度用表面电阻来表示，单位是Ω/□，数值越大说明镀铝层厚度越薄，一般真空镀铝薄膜的表面电阻值为1.0－2.5Ω/□，标准GB/T 15717-1995《真空金属镀层厚度测试方法 电阻法》对这一方法进行了详细的规定。
光密度法 光密度（OD）定义为材料遮光能力的表征。它用透光镜测量。光密度没有量纲单位，是一个对数值，通常仅对镀铝薄膜和珠光膜进行光密度测量
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