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一、概述 MC-2000A型涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：0～1200um，是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准，其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。 涂层测厚仪应用范围： 本仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、橡胶、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。 涂层测厚仪工作原理 ： MC-2000A型涂镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂镀层厚度。 一、概述 MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪测量范围：0~1200um 适合测量小工件和薄涂层厚度。它采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷；且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已经达到国际同类仪器的先进水平。 二、产品性能 1、测量范围： 0~1200um 2、测量误差（H为被测覆层厚度）：±（3%H 1um） 或H±2um 3、重复性：±（1%H 1um） 4、小示值： 1um 5、显示方式： 4位液晶数字显示 6、主要功能： (1).测量：内置探头全量程测厚 (2).统计：设有三个统计量：平均值、较大值、小值 (3).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准 (4).电量：具有欠压显示功能
